Cardenas, J. F., Cadenbach, T., Zhang, Z. B., Costa-Vera, C., Zhang, S. L. & Paz, J. L., 2016, Optical Micro- and Nanometrology VI. Osten, W., Gorecki, C. & Asundi, A. K. (eds.). SPIE, 98900N. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; vol. 9890).
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva