Effects of the technology scaling down to 28nm on Ultra-Low Voltage and Power OTA performance using TCAD simulations

Lionel Trojman, Juan Orozco, Mateo Bonilla, Mateo Valencia, Andre Borja, Luis Miguel Procel, Ramiro Taco

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Effects of the technology scaling down to 28nm on Ultra-Low Voltage and Power OTA performance using TCAD simulations'. En conjunto forman una huella única.

Computer Science

Engineering

Material Science