New Insight for next Generation SRAM: Tunnel FET versus FinFET for Different Topologies

Adriana Arevalo, Romain Liautard, Daniel Romero, Lionel Trojman, Luis Miguel Procel

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

5 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'New Insight for next Generation SRAM: Tunnel FET versus FinFET for Different Topologies'. En conjunto forman una huella única.

Physics

Computer Science

Neuroscience