Huella
Profundice en los temas de investigación de 'New Insight for next Generation SRAM: Tunnel FET versus FinFET for Different Topologies'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
New Insight for next Generation SRAM: Tunnel FET versus FinFET for Different Topologies
Adriana Arevalo, Romain Liautard, Daniel Romero, Lionel Trojman, Luis Miguel Procel
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva