Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs

B. Kaczer, J. Franco, M. Cho, T. Grasser, Ph J. Roussel, S. Tyaginov, M. Bina, Y. Wimmer, L. M. Procel, L. Trojman, F. Crupi, G. Pitner, V. Putcha, P. Weckx, E. Bury, Z. Ji, A. De Keersgieter, T. Chiarella, N. Horiguchi, G. GroesenekenA. Thean

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs'. En conjunto forman una huella única.

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