Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Origins and implications of increased channel hot carrier variability in nFinFETs
B. Kaczer, J. Franco, M. Cho, T. Grasser, Ph J. Roussel, S. Tyaginov, M. Bina, Y. Wimmer, L. M. Procel, L. Trojman, F. Crupi, G. Pitner, V. Putcha, P. Weckx, E. Bury, Z. Ji, A. De Keersgieter, T. Chiarella, N. Horiguchi, G. Groeseneken
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)