Reliability improvements in AlGaN/GaN schottky barrier diodes with a gated edge termination

Eliana Acurio, Felice Crupi, Nicolo Ronchi, Brice De Jaeger, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere, Lionel Trojman

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Reliability improvements in AlGaN/GaN schottky barrier diodes with a gated edge termination'. En conjunto forman una huella única.

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