Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Reliability improvements in AlGaN/GaN schottky barrier diodes with a gated edge termination'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Reliability improvements in AlGaN/GaN schottky barrier diodes with a gated edge termination
Eliana Acurio, Felice Crupi, Nicolo Ronchi, Brice De Jaeger, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere, Lionel Trojman
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva