Statistical model of the NBTI-induced threshold voltage, subthreshold swing, and transconductance degradations in advanced p-FinFETs

J. Franco, B. Kaczer, S. Mukhopadhyay, P. Duhan, P. Weckx, Ph J. Roussel, T. Chiarella, L. A. Ragnarsson, L. Trojman, N. Horiguchi, A. Spessot, D. Linten, A. Mocuta

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Statistical model of the NBTI-induced threshold voltage, subthreshold swing, and transconductance degradations in advanced p-FinFETs'. En conjunto forman una huella única.

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