Statistical model of the NBTI-induced threshold voltage, subthreshold swing, and transconductance degradations in advanced p-FinFETs
- J. Franco
- , B. Kaczer
- , S. Mukhopadhyay
- , P. Duhan
- , P. Weckx
- , Ph J. Roussel
- , T. Chiarella
- , L. A. Ragnarsson
- , L. Trojman
- , N. Horiguchi
- , A. Spessot
- , D. Linten
- , A. Mocuta
- Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum
- Indian Institute of Technology Bombay
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)